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  • Z3000審計最終粒度儀
    審計最終粒度儀：專為復雜體系提供高精度粒度解析方案，工作原理：動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS），檢測范圍：0.3nm-10.0μm。
    更新時間：2024-08-26型號：Z3000
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