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  • Nicomp Z3000 ZetaZeta電位與粒徑分析儀
    專為復雜體系提供高精度粒度解析 儀器型號：Nicomp Z3000 Zeta電位/納米粒度分析儀 工作原理： 粒度檢測： 動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS） Zeta電位檢測：帶相位分析的多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering with Phase analyze, DELS with PALS）
    更新時間：2024-08-26型號：Nicomp Z3000 Zeta
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